特許
J-GLOBAL ID：200903070308503040
波長分散測定装置及び偏波分散測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-366859
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193557
出願日： 1998年12月24日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：
【要約】【課題】 例えば2m〜20m等の短尺から長尺までの各被測定物の波長分散及び偏波分散を精度よく測定する。【解決手段】 所定の繰返し周期を有した波長可変の光パルスを出射するパルス光源42と、パルス光源から出射された光パルスを参照光パルスと被測定物へ入射させる入射光パルスとに分波する光分波器44と、参照光パルスの入射光パルスに対する相対遅延量を変化させる空間的な光遅延手段48と、被測定物を通過した出射光パルスと光遅延手段で遅延された参照光パルスとを受け、光遅延手段で参照光パルスの相対遅延量を変化させるたびにその位置での出射光パルスの光強度に比例した自己相関強度信号を得るサンプリング手段46と、このサンプリング手段で順次得られる自己相関強度信号から出射光パルスの自己相関波形を求める信号処理手段53とで構成する。
請求項（抜粋）：
所定の繰返し周期を有した波長可変の光パルスを出射するパルス光源(42)と、このパルス光源から出射された光パルスを参照光パルスと被測定物へ入射させる入射光パルスとに分波する光分波器(44)と、前記参照光パルスの前記入射光パルスに対する相対遅延量を変化させる空間的な光遅延手段(48)と、前記被測定物を通過した出射光パルスと前記光遅延手段で遅延された参照光パルスとを受け、前記光遅延手段で参照光パルスの相対遅延量を変化させるたびにその位置での前記出射光パルスの光強度に比例した自己相関強度信号を得るサンプリング手段(46)と、このサンプリング手段で順次得られる自己相関強度信号から前記出射光パルスの自己相関波形を求める信号処理手段(53)とを含み、このようにして得られた出射光パルスの自己相関波形の頂部を得るのに必要な前記光遅延手段で遅延させた参照光パルスの相対遅延量に基づいて前記被測定物の波長分散を求める波長分散測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
2K002AA02
, 2K002AA04
, 2K002AB02
, 2K002AB12
, 2K002BA02
, 2K002BA03
, 2K002BA04
, 2K002HA20
