特許
J-GLOBAL ID:200903070343507368

光線路検査方法及び光線路検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-069554
公開番号(公開出願番号):特開平8-271375
出願日: 1995年03月28日
公開日(公表日): 1996年10月18日
要約:
【要約】【目的】 少ない光導波路型回折格子から構成される光フィルタを用いた光線路検査方法を提供する。【構成】 本発明の光線路検査方法では、発光部(10)が約20nm以下の波長幅の検査光を出力し、この検査光を用いて光線路の検査が行われるので、光線路(3)の終端部に設けられた光フィルタ(60)の反射波長幅を十分に狭くできる。これにより、光フィルタ(60)を構成する光導波路型回折格子の数を少なくすること可能となり、モードミスマッチやOH基の吸収による信号光の伝送損失を低減して、光通信に与える影響を十分に抑えた光線路の検査を行うことができる。
請求項(抜粋):
検査すべき光線路であってその終端部に光フィルタが設けられたものに検査光を入射させ、前記光線路の各部及び前記光フィルタにおいて反射又は散乱された前記検査光を検出することにより前記光線路の状態を検査する方法であって、前記光フィルタは、互いに異なる周期を有する一以上の光導波路型回折格子から構成されるものであり、前記検査光の波長幅は、約20nm以下であることを特徴とする光線路検査方法。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G01M 11/02
FI (2件):
G01M 11/00 R ,  G01M 11/02 J
引用特許:
審査官引用 (4件)
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