特許
J-GLOBAL ID:200903070776862413
半導体集積回路における電源電流波形の解析方法及び解析装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-026795
公開番号(公開出願番号):特開2002-231813
出願日: 2001年02月02日
公開日(公表日): 2002年08月16日
要約:
【要約】【課題】 デジタル回路を含む半導体集積回路の電源電流を高精度且つ高速に解析可能な解析方法を提供する。【解決手段】 半導体集積回路におけるデジタル回路内部の電荷再分布過程を考慮した電源電流波形の解析方法であって、被解析デジタル回路を、それが含む論理ゲート回路のスイッチング動作分布に基づいて時系列で求めた電源とグラウンド間に接続されて充電される寄生容量の列ΣCch,↑(nT)、ΣCch,↓(nT)として表現し、さらにその寄生容量列を電源経路及びグラウンド経路のそれぞれの寄生インピーダンス成分Zd、Zgと接続して解析モデルを生成し、その回路モデル用いてデジタル回路の電源電流波形を求める。
請求項(抜粋):
複数の論理ゲート回路からなるデジタル回路を含む半導体集積回路の電源電流波形を解析する方法であって、前記デジタル回路を、該デジタル回路に含まれる論理ゲート回路のスイッチング動作分布に基づいて電源とグラウンド間に接続されて充電される寄生容量の時系列からなる寄生容量列および静的に充電状態にある寄生容量群として表現し、該寄生容量列の一方の電極、静的に充電状態にある容量群の一方の電極、電源経路の寄生インピーダンス成分を接続し、該寄生容量列の他方の電極、静的に充電状態にある容量群の他方の電極、グラウンド経路の寄生インピーダンス成分を接続して解析モデルを生成し、該解析モデルを用いて前記デジタル回路の電源電流波形を求めることを特徴とする電源電流波形の解析方法。
IPC (7件):
H01L 21/82
, G01R 29/26
, G01R 31/316
, G06F 17/50 652
, G06F 17/50 658
, G06F 17/50
, G06F 17/50 666
FI (8件):
G01R 29/26 D
, G06F 17/50 652 A
, G06F 17/50 658 A
, G06F 17/50 658 V
, G06F 17/50 666 V
, G06F 17/50 666 Z
, H01L 21/82 T
, G01R 31/28 C
Fターム (28件):
2G132AA11
, 2G132AB08
, 2G132AC11
, 2G132AD01
, 2G132AD03
, 2G132AL11
, 5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA01
, 5F064AA04
, 5F064BB02
, 5F064BB18
, 5F064BB19
, 5F064BB21
, 5F064BB31
, 5F064CC12
, 5F064DD03
, 5F064EE09
, 5F064EE22
, 5F064EE26
, 5F064EE27
, 5F064EE43
, 5F064EE45
, 5F064EE52
, 5F064HH06
, 5F064HH09
, 5F064HH10
, 5F064HH12
引用特許:
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