特許

J-GLOBAL ID：200903070804813920

非接触三次元測定装置

発明者： 中村 昌弘 ,  中村 協司 ,  濱田 直明 ,  堀越 勝 ,  栗田 充隆
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 木内 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-184800
公開番号（公開出願番号）：特開平9-014921
出願日： 1995年06月27日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】 コストを抑えつつ自動視準精度を向上させることができる非接触三次元測定装置を提供する。【構成】 測定対象物13の設計データに基づいてトータルステーション1を駆動させ、トータルステーション1の望遠鏡を測定対象物13の設計点へ向け、測定対象物13の設計点に向いた望遠鏡の位置と測定対象物13に取り付けられた測定ターゲット16の中心位置とのずれ量を測定するようにしたので、自動捜索手段や自動追尾手段を採用せずに自動視準を行うことができ、コストを抑えつつ自動視準精度を向上させることができる。

請求項（抜粋）：

望遠鏡を備え、少なくとも測角が可能な測量機を備えた非接触三次元測定装置において、測定対象物の複数の設計点からなる設計データを格納する設計データ記憶手段と、前記設計データ記憶手段から読み出された前記設計データに基づいて前記測量機を駆動させ、前記望遠鏡を前記測定対象物の前記設計点へ向ける駆動手段と、前記測定対象物の設計点に向いた前記望遠鏡の位置と前記測定対象物に取り付けられたターゲットの中心位置とのずれ量を測定する誤差検出手段とを備えていることを特徴とする非接触三次元測定装置。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/06 ,  G06T 7/00

FI (4件)：

G01B 11/00 H ,  G01C 15/00 A ,  G01C 15/06 T ,  G06F 15/62 415

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 三次元座標自動計測解析法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-272541   出願人：新日本製鐵株式会社