特許
J-GLOBAL ID：200903070809535219
光飛跡観測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-150073
公開番号（公開出願番号）：特開2000-283854
出願日： 1999年05月28日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：
【要約】【課題】 光パルスの飛跡を直接的に観測することができる光飛跡観測装置を提供する。【解決手段】 超短パルス光源11からの光パルスを光分岐器12によって分岐して、励起光学系2及びプローブ光学系3によってそれぞれ所定の直線偏光状態を有する励起パルス及びプローブパルスとして検出媒体4に導光する。このとき、励起パルスの入射によって検出媒体4中に生成された、非線形光学効果による屈折率変化を生じた光飛跡領域について、プローブパルスを照射し、検出媒体4を通過した成分のうち光飛跡領域を通過して偏光状態が変化したプローブパルス成分を光検出部5において検光子51を介してカメラ53で検出することによって、励起パルスの光飛跡を観測することができる。
請求項（抜粋）：
パルス光源によって供給された光パルスから、それぞれの出力タイミングが同期された第1の光束と第2の光束とを生成して出力する光源部と、光パルスの飛跡を検出し観測するための検出媒体と、前記第1の光束に基づいて励起パルスを形成し、前記検出媒体に前記励起パルスを入射する励起光学系と、前記第2の光束に基づいてプローブパルスを形成し、前記検出媒体に前記励起パルスが入射されることによって非線形光学効果による屈折率変化が誘起された光飛跡領域を含む前記検出媒体の所定領域に前記プローブパルスを照射するプローブ光学系と、前記検出媒体の所定領域を通過した前記プローブパルスを検出する光検出部と、を備え、前記励起光学系は、前記励起パルスを所定の偏光状態とするための励起パルス偏光手段と、前記励起パルスを前記検出媒体に所定の入射条件によって入射させる入射光学系とを有し、前記プローブ光学系は、前記プローブパルスを所定の偏光状態とするためのプローブパルス偏光手段を有し、前記光検出部は、前記検出媒体の所定領域を通過した前記プローブパルスのうち、所定の偏光成分のみを透過させる検光手段と、前記検光手段を透過した前記プローブパルスを検出・観測する光検出手段と、前記検出媒体の所定領域を通過し前記検光手段を透過した前記プローブパルスを前記光検出手段に結像させる結像手段と、を有することによって、前記光飛跡領域における屈折率の異方性を検出して、前記励起パルスの光の飛跡を観測することを特徴とする光飛跡観測装置。
Fターム (24件)：
2G065AA11
, 2G065AA12
, 2G065AB02
, 2G065AB09
, 2G065AB14
, 2G065AB26
, 2G065BA04
, 2G065BA33
, 2G065BA34
, 2G065BB02
, 2G065BB06
, 2G065BB07
, 2G065BB14
, 2G065BB23
, 2G065BB27
, 2G065BB28
, 2G065BB29
, 2G065BB32
, 2G065BB33
, 2G065BC11
, 2G065BC13
, 2G065BC19
, 2G065BC22
, 2G065DA18
