特許
J-GLOBAL ID：200903070834812898
ICテストシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
尾身 祐助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-269413
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094797
出願日： 1992年09月11日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：
【要約】【目的】 被試験ICを駆動するドライバと、被試験ICの出力を基準値と比較するコンパレータとのオフセット調整を自動的に行いうるようにする。【構成】 ICを駆動するレベルの電圧を与える入力データレベル電源1aとドライバ7との間、およびICの出力電圧の基準値を与える出力データレベル電源(図示なし)とコンパレータ8a、8bとの間にオフセット自動補正回路3を配置する。ドライバ7、コンパレータ8a、8bの入力電圧を0Vとし、そのときのオフセット電圧を電圧計10で測定し、コンピュータ2はこのオフセット電圧を0にするための補正値を算出し、その値をレジスタ4にロードする。この補正値をD/Aコンバータ5を介して増幅器6に入力することによりオフセットを調整する。
請求項（抜粋）：
被試験ICに入力すべきレベルの電圧を発生する入力データレベル電源と、前記入力データレベル電源の出力する出力電圧を補正する入力補正回路と、前記入力補正回路の出力信号を受けて被試験ICの駆動信号を出力するドライバと、前記ドライバの出力オフセット電圧を測定し、これを0にするのに必要な前記入力補正回路の補正量を求め、該補正量を前記入力補正回路に設定する機構と、を具備するICテストシステム。
FI (2件)：
G01R 31/28 P
, G01R 31/28 R
