特許
J-GLOBAL ID：200903070879487920
蛍光X線分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-109704
公開番号（公開出願番号）：特開平10-300695
出願日： 1997年04月25日
公開日（公表日）： 1998年11月13日
要約：
【要約】【課題】 蛍光X線分析装置において、試料が微小な結晶の混合物であっても回折X線が除去出来るようにする。【解決手段】 試料とX線検出器の間のX線通路中に、X線光束の一部を遮断する移動可能なシャッタ機構を設け、同一試料に対してシャッタ位置の少なくとも2カ所以上に変えてスペクトルを各々測定するようにした。
請求項（抜粋）：
試料とX線検出器の間のX線通路中に、X線光束の一部を遮断する移動可能なシャッタ機構を設けたことを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/223
, G21K 1/04 S
