特許
J-GLOBAL ID：200903070981166322

粒子追跡法を用いた流場計測方法

発明者：
忠政 明彦

忠政 明彦 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-177335
公開番号（公開出願番号）：特開2008-008686
出願日： 2006年06月27日
公開日（公表日）： 2008年01月17日
要約：
【課題】トレーサ粒子の追跡が容易であり、また速度ベクトルの分布を精度よく抽出することができ、しかも速度勾配テンソルを求めることを可能にする。【解決手段】撹拌槽1は有底円筒状であり、撹拌翼2は撹拌槽1の底面の中心に直交する回転軸3により回転する。撹拌槽1内の流体7にはトレーサ粒子が混入され、トレーサ粒子の速度ベクトルがトレーサ粒子の画像から求められる。撹拌翼2の回転軸3の延長方向を座標軸に持つ2次元平面である基準平面PLを設定し、トレーサ粒子の速度ベクトルを回転軸3の周りに回転させ、速度ベクトルの始点を基準平面PLに位置させる。さらに、基準平面PLの上の着目位置の周囲に3次元の微小領域である単位格子を設定し、単位格子内における基準平面PLの上の複数個の原データを用いて着目位置に関する微分演算を有限差分法で代用することにより着目位置の速度勾配テンソルの成分を求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
内側面が撹拌翼の回転軸を中心とする回転体形状に形成された槽であって撹拌翼の回転に伴って撹拌翼の回転軸を中心とする流動を生じる撹拌槽内の流体にトレーサ粒子を混入させ、非接触かつ所定の時間間隔で位置計測を行う位置計測装置によりトレーサ粒子の3次元位置を追跡し、トレーサ粒子の位置の時間変化により撹拌槽内の流場を計測する方法であって、撹拌翼の回転軸の延長方向を一つの座標軸に持つ2次元平面を基準平面として設定し、トレーサ粒子の3次元位置を追跡することにより撹拌槽内の全体で得られる速度ベクトルの原データを回転軸の回りに回転させて原データを基準平面の位置に配置した後、基準平面の上の着目位置の周囲に3次元の微小領域を設定するとともに微小領域内における基準平面の上の複数個の原データを用いて着目位置に関する微分演算を有限差分法で代用することにより着目位置の速度勾配テンソルの成分を求めることを特徴とする粒子追跡法を用いた流場計測方法。
IPC (3件)：
G01M 10/00 ,  G01P 5/20 ,  G01M 9/00
FI (3件)：
G01M10/00 ,  G01P5/20 F ,  G01M9/00
Fターム (7件)：
2G023AB21 ,  2G023AB27 ,  2G023AC01 ,  2G023AD10 ,  2G023BB46 ,  2G023BC01 ,  2G023BD04
引用特許：
出願人引用 (6件)
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