特許
J-GLOBAL ID：200903071088439643
二次電池の劣化判定回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-324965
公開番号（公開出願番号）：特開2005-093240
出願日： 2003年09月17日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：
【課題】 あらゆる二次電池に適応でき、電池の周辺回路を安価に設計でき、素早く判定できる二次電池の劣化判定回路を提供する。 【解決手段】 劣化判定回路1は、組み電池2を本体装置5に接続した時点から劣化判定を行う時点までの経過時間tを測定する接続時間計測部6と、前記時間tの間の組み電池2の状態を表す状態データ(例えば時間tの間の組み電池2の平均温度および平均放電深度)を取得する状態データ取得部(平均温度演算部8および平均放電深度演算部12)と、前記状態データに応じて、組み電池2を本体装置5に接続した時点における内部抵抗初期値に対する、劣化判定を行う時点における内部抵抗値の変化(CIR1およびCIR2)を推定する内部抵抗値推定部(CIR1選定部10およびCIR2選定部15)とを備え、内部抵抗値推定部により求められた結果(CIR1×CIR2)に基づき、組み電池2の劣化を判定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
本体装置に用いられる二次電池を前記本体装置に接続した時点から劣化判定を行う時点までの経過時間を測定する経過時間計測部と、
前記二次電池を前記本体装置に接続した時点から劣化判定を行う時点までの間の前記二次電池の状態を表す状態データを取得する状態データ取得部と、
前記状態データに応じて、前記二次電池を前記本体装置に接続した時点における内部抵抗初期値に対する、劣化判定を行う時点における内部抵抗値の変化を推定する内部抵抗値推定部と、
前記内部抵抗値推定部により求められた結果に基づき、前記二次電池の劣化を判定することを特徴とする二次電池の劣化判定回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01M10/48 P
, G01R31/36 A
2G016CB06
, 2G016CB12
, 2G016CC01
, 2G016CC02
, 2G016CC03
, 2G016CC04
, 2G016CC06
, 2G016CC10
, 2G016CC13
, 2G016CC21
, 2G016CC28
, 2G016CF06
, 5H030AA09
, 5H030AS03
, 5H030AS14
, 5H030FF22
, 5H030FF41
, 5H030FF43
, 5H030FF44
, 5H030FF52
