特許
J-GLOBAL ID：200903071169515182
光学的計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
鹿島 義雄
, 甲斐 寛人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-241980
公開番号（公開出願番号）：特開2007-057338
出願日： 2005年08月24日
公開日（公表日）： 2007年03月08日
要約：
【課題】液体中の粒子に関する情報を感度よく測定する光学的測定装置を提供する。【解決手段】 光源16と、電源15と、セル10と、セル11内の液体試料と接する位置に形成され、光源16から光が照射されることにより基本回折光パターンを生じる回折格子兼電極11と、回折格子兼電極11に電圧を印加することにより粒子分布を変化させて基本回折光パターンとは異なる角度位置に新たな派生回折光パターンを生じさせる電圧印加部21と、派生回折光パターンに含まれる各次数の派生回折光をそれぞれ個々に検出する光検出器群25と、光検出器群25により同時に検出された各派生回折光信号を収集する派生回折光信号処理部31とを備え、派生回折光信号処理部31は、ほぼ同時に収集した複数の派生回折光信号の和に基づいて粒子に関する情報を計測する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源と、電源と、粒子を含む液体試料を保持するセルと、セル内の液体試料と接する位置に形成され、光源から光が照射されることにより基本回折光パターンを生じる回折格子と、回折格子の少なくとも一部を構成するとともに電源から電圧が印加される電極と、電極に電圧を印加することにより粒子分布を変化させて基本回折光パターンとは異なる角度位置に新たな派生回折光パターンを生じさせる電圧印加部と、派生回折光パターンに含まれる各次数の派生回折光をそれぞれ個々に検出する光検出器群と、光検出器群により同時に検出された各派生回折光信号を収集する派生回折光信号処理部とを備え、
派生回折光信号処理部は、ほぼ同時に収集した複数の派生回折光信号の和に基づいて粒子に関する情報を計測することを特徴とする光学的測定装置。
IPC (3件)：
G01N 15/06
, G01N 15/00
, G01N 21/47
G01N15/06 C
, G01N15/00 A
, G01N21/47 A
2G059AA01
, 2G059AA03
, 2G059BB06
, 2G059CC19
, 2G059DD12
, 2G059DD15
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059KK02
, 2G059KK03
, 2G059KK04
