特許
J-GLOBAL ID:200903071185130959

パッチテストによるストレス測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 鷹野 みふね ,  鷹野 寧
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-319090
公開番号(公開出願番号):特開2005-081019
出願日: 2003年09月10日
公開日(公表日): 2005年03月31日
要約:
【課題】 本発明は、被測定者への負担が少なく、しかも短時間で簡易且つ正確にストレスを測定しうる方法を提供することを課題とする。 【解決手段】 起炎物質(塩化ベンザルコニュウム、ラウリル硫酸ナトリウム等の長鎖アルキル硫酸塩、2,4-ジニトロベンゼン、p-フェニレンジアミン、ベンゾカイン、ホルムアルデヒド、アゾ染料など)を皮膚に接触させて皮膚上で起こる炎症を検査するパッチテストを行い、該炎症の程度をICDRGT等の一定の評価基準で定量評価することにより、ストレスを定量的に測定する。 【選択図】 なし
請求項(抜粋):
起炎物質を皮膚に接触させて皮膚上で起こる炎症を測定するパッチテストを行い、該炎症の程度を定量的に測定することにより、ストレスを定量的に測定することを特徴とする、パッチテストによるストレス測定方法。
IPC (1件):
A61B5/16
FI (1件):
A61B5/16
Fターム (2件):
4C038PP03 ,  4C038PS00
引用特許:
出願人引用 (5件)
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