ICP発光分光分析装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岡田和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-035298
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249783
出願日： 1993年02月24日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】【目的】ネブライザによる試料導入系では感度が不足するAs、Se、Sb、Biなどの元素および気体の水素化物に変換できないCd、Fe、Zn、Crなどの元素を、同時に分析できるICP発光分光分析装置を提供する。【構成】水素化物発生器2で水素化物に変換された試料および超音波ネブライザ3で霧化された試料を、二つの試料導入管を有する四重管構造のプラズマトーチ21に同時に導入して励起発光させて分析するようにしている。

請求項（抜粋）：

液体試料中の元素を還元して水素化物に変換する水素化物発生器と、前記液体試料を霧化するネブライザと、少なくとも二つの試料導入管を有するプラズマトーチとを備え、前記水素化物発生器からの水素化物および前記ネブライザで霧化された試料が、前記プラズマトーチの各試料導入管に個別に導入されることを特徴とするICP発光分光分析装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開平1-143936
ICP発光分光分析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-012955 出願人：セイコー電子工業株式会社

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