特許
J-GLOBAL ID：200903071276720619

格子を備えるMALDIプレート構築物

発明者：
ベスタル, マービン エル.

ベスタル, マービン エル. について

, 
ハッチンス, ティモシー イー.

ハッチンス, ティモシー イー. について


出願人/特許権者：
アプレラ コーポレイション

アプレラ コーポレイション について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-545759
公開番号（公開出願番号）：特表2007-514956
出願日： 2004年12月10日
公開日（公表日）： 2007年06月07日
要約：
サンプルの質量分析を実施するような様式で、サンプルを支持するためのMALDIプレート構築物が提供される。そのプレート構築物は、サンプル受容表面、そのサンプル受容表面を保持するためのプレートホルダ、およびそのサンプル受容表面に隣接して配置され、かつそのプレートホルダと電気的に接触している導電性格子を備える。いくつかの実施形態において、その格子は、交差する導電性ワイヤから形成され得る。このワイヤは、そのワイヤの交点の範囲内に開放領域を形成する。種々の実施形態において、その格子は、サンプルまたはサンプル受容表面と接触して配置され得、そしてレーザーからの光線がその格子の開放領域を通って、次いでサンプルまたはサンプル受容表面上に通過し、そのサンプルを脱離およびイオン化することを可能にするように配置され得る。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのサンプルを支持してサンプルの質量分析を実施するためのプレート構築物であって、該プレート構築物は、以下: 該少なくとも1つのサンプルが置かれる、サンプル受容表面、 該サンプル受容表面を保持するように適合された、プレートホルダ、および 該サンプル受容表面上に配置され、かつ該プレートホルダと電気的に接触している、少なくとも1つの導電性格子、 を備える、プレート構築物。
IPC (1件)：
G01N 27/64
FI (1件)：
G01N27/64 B
Fターム (9件)：
2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA03 ,  2G041FA12 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA16 ,  2G041JA07
引用特許：
審査官引用 (2件)

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