特許
J-GLOBAL ID:200903071315448875

スズ合金メッキを施した表面被覆材料、並びに当該被覆材料を利用した電子部品

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 豊永 博隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-268132
公開番号(公開出願番号):特開2001-089894
出願日: 1999年09月22日
公開日(公表日): 2001年04月03日
要約:
【要約】【課題】 鉛を含まないスズ-鉛合金メッキ皮膜の硬度を高める。【解決手段】 スズと、銀、ビスマス、インジウム、亜鉛、ニッケル、コバルト、銅、アンチモンよりなる群から選ばれた金属の少なくとも一種とのスズ合金メッキ皮膜を素地上に形成した表面被覆材料において、メッキ皮膜中のβ-スズ結晶のX線回折パターンから特定方式で算出された配向性指数の最大値が2以上であり、上記β-スズ結晶におけるミラー指数の〈001〉方向が素地表面の法線方向に対して0〜40.8度の角度を成すように配向させる。鉛を含まないスズ合金皮膜中のβ-スズ結晶の〈001〉方向を素地表面の法線方向に対して特定条件で配向するため、素地表面に沿う変形力が働いても上記所定の結晶面の滑り抵抗が増して塑性変形し難くなり、皮膜硬度が高まって耐摩耗性が向上する。
請求項(抜粋):
スズと、銀、ビスマス、インジウム、亜鉛、ニッケル、コバルト、銅、アンチモンよりなる群から選ばれた金属の少なくとも一種とのスズ合金メッキ皮膜を素地上に形成した表面被覆材料において、メッキ皮膜中のβ-スズの結晶面のX線回折パターンに基づいて次式(A)により算出した各結晶面の配向性指数Xhklの最大値が2以上であり、 Xhkl={(ΣASTMのI/I1)×(測定された(hkl)面のI/I1)}÷ {(Σ測定されたI/I1)×(ASTM(hkl)面のI/I1)}...(A)(式(A)において、Xhkl:特定の(hkl)面の配向性指数。測定された(hkl)面のI/I1:配向性指数を求めようとしているβ-スズの特定の(hkl)面の測定された回折強度を、その測定されたX線回折パターンのβ-スズの回折ピークの中で最も強いピークの回折強度で除した数値。ΣASTMのI/I1:粉末法によるβ-スズのX線回折パターン(例えば、ASTMカード等)における{200}面、{101}面、{220}面、{211}面、{301}面、{112}面、{400}面、{321}面、{420}面、{411}面、{312}面、{501}面の各回折強度を、その回折パターン中で最も強い回折ピーク(即ち、{200}面)の回折強度で除した数値の総和。Σ測定されたI/I1:測定されたX線回折パターンにおけるβ-スズの{200}面、{101}面、{220}面、{211}面、{301}面、{112}面、{400}面、{321}面、{420}面、{411}面、{312}面、{501}面の各回折強度を、その回折パターン中のβ-スズの回折ピークのうち、最も強い回折ピークの回折強度で除した数値の総和。ASTM(hkl)面のI/I1:粉末法によるβ-スズのX線回折パターン(例えば、ASTMカード等)における配向性指数を求めようとしているβ-スズの特定の(hkl)面の回折強度を、その回折パターン中の最も強い回折ピーク(即ち、{200}面)の回折強度で除した数値。)メッキ皮膜中のβ-スズの結晶格子におけるミラー指数の〈001〉方向が素地表面の法線方向に対して0〜40.8度の角度を成すように配向させたことを特徴とするスズ合金メッキを施した表面被覆材料。
IPC (5件):
C25D 3/60 ,  C25D 7/00 ,  H01F 5/04 ,  H01G 4/228 ,  H01G 13/00 303
FI (5件):
C25D 3/60 ,  C25D 7/00 G ,  H01F 5/04 A ,  H01G 13/00 303 C ,  H01G 1/14 F
Fターム (33件):
4K023AB34 ,  4K023BA06 ,  4K023BA26 ,  4K023BA29 ,  4K023CA01 ,  4K023CB03 ,  4K023CB04 ,  4K023CB05 ,  4K023CB09 ,  4K023CB13 ,  4K023CB21 ,  4K023CB33 ,  4K024AA15 ,  4K024AA21 ,  4K024AA22 ,  4K024AA23 ,  4K024AB01 ,  4K024AB11 ,  4K024AB19 ,  4K024BA02 ,  4K024BA09 ,  4K024BB09 ,  4K024BB10 ,  4K024GA01 ,  4K024GA03 ,  4K024GA05 ,  4K024GA14 ,  4K024GA16 ,  5E082GG04 ,  5E082GG26 ,  5E082PP03 ,  5E082PP09 ,  5E082PP10
引用特許:
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る