特許

J-GLOBAL ID：200903071460542227

X線検査装置

発明者： 政木 俊道
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-246714
公開番号（公開出願番号）：特開2006-064508
出願日： 2004年08月26日
公開日（公表日）： 2006年03月09日
要約：

【課題】 製品出荷時における製品の状態を、高い信憑性のもとに証明することのできるX線検査装置を提供する。【解決手段】 検査対象物品Wを特定できる特徴部分もしくは全体像を撮影する光学撮影手段5を設け、この光学撮影手段5により撮影した検査対象物品Wの光学像と、検査対象物品WにX線を照射して得たX線透視像とを相互に関連づけて記憶する記憶手段13を備えることにより、製品出荷時におけるX線透視像と実際の製品とを高い客観性および信憑性のもとに関連づけることを可能とし、公正なトレーサビリティを実現する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象物品にX線を照射して得られるX線透過データを用いて、その物品のX線透視像を構築して物品内部を検査するX線検査装置において、 検査対象物品を特定できる特徴部分もしくは全体像を撮影する光学撮像手段と、その光学撮像手段により撮影された光学像と上記X線透視像を相互に関連づけて記憶する記憶手段を備えていることを特徴とするX線検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G06T1/00 200D

Fターム (31件)：

2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001BA11 ,  2G001BA15 ,  2G001BA30 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001CA10 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  5B050AA03 ,  5B050BA10 ,  5B050BA15 ,  5B050CA07 ,  5B050DA01 ,  5B050DA07 ,  5B050EA10 ,  5B050EA17 ,  5B050FA02 ,  5B050GA07 ,  5B050GA08

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-097162   出願人：株式会社島津製作所, 株式会社キリンテクノシステム