特許
J-GLOBAL ID:200903071538451037

被帯電体寿命検知装置、これを備えたプロセスユニットおよび画像形成装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 近島 一夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-339762
公開番号(公開出願番号):特開平9-179460
出願日: 1995年12月26日
公開日(公表日): 1997年07月11日
要約:
【要約】【課題】 交流バイアス成分を含む重畳電圧を印加した接触帯電部材を用いて、被帯電体の寿命を正確に検知できるようにする。【解決手段】 交流バイアス成分を含む重畳電圧が帯電ローラ2に印加される時間を積算する。これにより、感光体1のダメージがもっとも顕著に発生するときのみを積算することになり、この積算値とあらかじめ設定した寿命情報とを比較部25により比較する。そして、比較結果に基づいて感光体1の劣化度合いを検知できるようにして、感光体1の寿命を正確に把握できる。
請求項(抜粋):
交流バイアス成分を含む電圧が印加される接触帯電部材および該接触帯電部材が接触する被帯電体を有し、前記接触帯電部材に印加される電圧に基づいて帯電される前記被帯電体の寿命を検知するようにした被帯電体寿命検知装置において、前記交流バイアス成分を前記接触帯電部材に印加したことを検出する交流出力指示手段と、該交流出力指示手段によって指示された交流バイアス成分の印加時間を積算する積算手段と、該積算手段が積算した積算値とあらかじめ定めた被帯電体の寿命情報とを比較する比較手段と、該比較手段の比較結果に基づいて前記被帯電体が寿命であるか否かを報知する報知手段とを備えた、ことを特徴とする被帯電体寿命検知装置。
IPC (5件):
G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 21/18 ,  G03G 15/02 101 ,  G03G 15/16 103
FI (5件):
G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 15/02 101 ,  G03G 15/16 103 ,  G03G 15/00 556
引用特許:
審査官引用 (6件)
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