特許
J-GLOBAL ID：200903071628253064
体積試料中の放射能をゲルマニウム半導体検出器によって測定する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-290056
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098768
出願日： 2000年09月25日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：
【要約】【課題】 原子力事業所等が放射線管理や研究の目的で様々な形状、密度、材質の体積試料の放射能測定を行う際に、各体積試料固有の検出効率を簡便かつ精度良く決定する方法である。【解決手段】 体積試料中の放射能をゲルマニウム半導体検出器によって測定する際に必要となる検出効率を、検出器周辺に存在する一点(代表点)に標準点状線源を置いて決定する。
請求項（抜粋）：
体積試料中の放射能をゲルマニウム半導体検出器によって測定する際に必要となる検出効率を、検出器周辺に存在する一点(代表点)に標準点状線源を置いて決定する方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
2G088BB05
, 2G088FF04
, 2G088GG21
, 2G088LL13
, 2G088LL28
