特許
J-GLOBAL ID：200903071667650941
マイクロコンピュータの耐久試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武田 正彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-100041
公開番号（公開出願番号）：特開平6-274365
出願日： 1993年03月19日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 耐久試験中に、マイクロコンピュータの不良品が検出でき、しかも、このように検出された不良品のマイクロコンピュータを、即座に取り出すことができ、現場での組み立て、異種のマイクロコンピュータを同時に試験すること、及び高温化及び低温化が容易であり、さらに、テストプログラムの導入が容易なマイクロコンピュータの耐久試験装置を提供する。【構成】 枠体を囲う覆体とを備えるマイクロコンピュータの耐久試験装置において、枠体の横桟に沿って設けられている案内部材と、該案内部材に移動可能に係合する移動部材が設けられ、横桟の長さに対し同寸法以下の奥行を有するマイクロコンピュータ載置用の複数の棚部材と、雰囲気ガス導入孔及び雰囲気ガスの排出口並びに配線連絡口が設けられている覆体の天板部と、複数の棚部材の後部に形成される配線処理空間とを備える。
請求項（抜粋）：
枠体と、該枠体を囲う覆体とを備えるマイクロコンピュータの耐久試験装置において、枠体の横桟に沿って設けられている案内部材と、該案内部材に移動可能に係合する移動部材が設けられ、横桟の長さに対し同寸法以下の奥行を有するマイクロコンピュータ載置用の複数の棚部材と、雰囲気ガス導入孔及び雰囲気ガスの排出口並びに配線連絡口が設けられている覆体の天板部と、複数の棚部材の後部に形成される配線処理空間とを備えることを特徴とするマイクロコンピュータの耐久試験装置。
IPC (2件)：
G06F 11/22 340
, G06F 11/22 310
