特許
J-GLOBAL ID:200903071861650375

半導体レーザを用いた焼入れ方法および焼入れ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 角田 嘉宏 ,  古川 安航 ,  西谷 俊男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-249876
公開番号(公開出願番号):特開2007-063606
出願日: 2005年08月30日
公開日(公表日): 2007年03月15日
要約:
【課題】 大面積の焼入れを短時間で行えるレーザ焼入れ方法を提供すること、および、複雑なパターンの焼入れを容易に行うことができるレーザ焼入れ方法およびレーザ焼入れ装置を提供すること。【解決手段】 半導体レーザバーと集光系とを有するレーザユニットを前記集光系が内側を向くように複数個配置し、前記レーザユニットから出射されたレーザビームの楕円スポットをワークの焼入れ面上に配列させることにより焼入れを行う。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
レーザ照射装置の1以上の半導体レーザで発生したレーザビームを、複数の楕円形のスポットが配列されたスポットパターンがワーク上に形成されるように前記ワークに照射し、前記スポットパターンにより、前記ワークを焼き入れするレーザ焼入れ方法。
IPC (4件):
C21D 1/09 ,  B23K 26/00 ,  C21D 1/62 ,  B23K 26/073
FI (5件):
C21D1/09 H ,  B23K26/00 E ,  C21D1/09 M ,  C21D1/62 ,  B23K26/073
Fターム (3件):
4E068AH00 ,  4E068CD02 ,  4E068CD05
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 再表02/009904号公報

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