特許
J-GLOBAL ID:200903071883191404

センサ測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (8件): 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-100488
公開番号(公開出願番号):特開2004-309219
出願日: 2003年04月03日
公開日(公表日): 2004年11月04日
要約:
【課題】多数の物理量を、ファイバ測定センサを用いて同時に測定する。【解決手段】伝送損失が印加された物理量に応じて変化する複数のファイバ測定センサ11と、各ファイバ測定センサを直列接続する光ファイバ7と、光ファイバの一端からパルス波形を有した測定光を印加して、反射波形gを測定して出力する光パルス試験器10と、各ファイバ測定センサに物理量を印加していない状態における反射波形gを基準波形eとして記憶する基準波形メモリ23と、測定実施時に光パルス試験器から出力された反射波形gを測定波形fとし、基準波形と測定波形との差分波形hを算出する差分算出部25と、差分波形hにおける各距離での差分の変化量Eを算出する差分変化量算出部27と、算出された各距離での差分変化量に基づいて、各ファイバ測定センサに印加された物理量Dを評価する物理量評価手段29、31、32とを備えている。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
互いに離間した各測定対象に設けられ、入射光に対する伝送損失が印加された物理量に応じて変化する複数のファイバ測定センサ(11)と、 この各ファイバ測定センサを直列接続する光ファイバ(7)と、 この光ファイバの一端からパルス波形を有した測定光(a)を印加して、前記光ファイバの一端からの距離(d)を関数とする反射波形(g)を測定して出力する光パルス試験器(10)と、 前記各ファイバ測定センサに物理量を印加していない状態において前記光パルス試験器から出力された反射波形(g)を基準波形(e)として記憶する基準波形メモリ(23)と、 前記各測定対象に対する測定実施時に前記光パルス試験器から出力された反射波形(g)を測定波形(f)とし、前記基準波形と前記測定波形との差分波形(h)を算出する差分算出部(25)と、 この差分算出部で算出された差分波形における各距離での差分の変化量(E)を算出する差分変化量算出部(27)と、 この差分変化量算出部で算出された各距離での差分変化量に基づいて、各距離位置に配置されたファイバ測定センサに印加された物理量を評価する物理量評価手段(29、31、32)と、 を備えたセンサ測定システム。
IPC (4件):
G01F23/14 ,  G01D5/26 ,  G01L11/02 ,  G01L15/00
FI (4件):
G01F23/14 ,  G01D5/26 D ,  G01L15/00 ,  G01L11/02
Fターム (18件):
2F014BA10 ,  2F055AA39 ,  2F055BB19 ,  2F055CC11 ,  2F055DD07 ,  2F055EE31 ,  2F055FF31 ,  2F055GG49 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103CA07 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103ED01 ,  2F103ED11 ,  2F103ED27 ,  2F103ED35 ,  2F103FA15
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 圧力センサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-060395   出願人:科学技術庁防災科学技術研究所長, 江口孝雄
  • 力センサ及びそれを用いた力測定システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-182931   出願人:株式会社共和電業
  • 河川の水位センサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-106617   出願人:財団法人河川情報センター, 日立電線株式会社
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