特許
J-GLOBAL ID：200903071916750951
試料分析装置及びそれを用いた試料分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-120138
公開番号（公開出願番号）：特開2006-300611
出願日： 2005年04月18日
公開日（公表日）： 2006年11月02日
要約：
【課題】 分析精度の高い試料分析装置及びそれを用いた試料分析方法を提供する。【解決手段】 試料分析装置1は、ラマンスペクトル測定装置10と、分析部位特定装置20と、分析装置30と、入力装置31と、標準データベース40と、表示装置50とを備えている。ラマンスペクトル測定装置10は、試料Sへと照射される励起光を出射する励起光源である励起レーザ11と、励起光が照射された前記試料からのラマン散乱光を分光する分光器16と、分光器16で分光されたラマン散乱光を検出する光検出器17と、光検出器17で検出されたラマン散乱光を計数してラマンスペクトルを得る計数回路18とを有する。分析部位特定装置20は、励起光が照射される試料Sの分析部位を特定するための部位特定信号を分析装置30に対して出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ラマン分光法を用いた試料分析装置であって、
試料に照射される励起光を出射する励起光源と、
前記励起光が照射された前記試料からのラマン散乱光を分光する分光手段と、
前記分光手段で分光された前記ラマン散乱光を検出する光検出手段と、
前記光検出手段で検出された前記ラマン散乱光を計数してラマンスペクトルを得る計数手段と、
前記励起光が照射される前記試料の分析部位を特定する部位特定手段と、
前記部位特定手段によって特定される前記分析部位に応じて、前記計数手段において得られた前記試料の前記ラマンスペクトルの分析を行う分析手段と、
を備えることを特徴とする試料分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043EA03
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB28
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA04
, 2G043KA01
, 2G043KA09
, 2G043LA02
, 2G043NA01
, 2G045AA26
, 2G045CB01
, 2G045FA14
, 2G045GC11
