特許
J-GLOBAL ID：200903071925212075
分析システムにおける機器管理システム
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山村 喜信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-273941
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094600
出願日： 1997年09月18日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：
【要約】【課題】 記入忘れや記入漏れが少なく、かつ、分析システムの管理を容易にする機器管理システムを提供する。【解決手段】 検出器ないし測定器を有し測定値を出力する測定装置と、該測定装置からの測定値および所定の演算プログラムに基づいて分析値を算出する情報処理装置とを備えた分析システムにおいて、標準試料を用いて測定・算出した分析値を時系列的に表示する表30および/または図31を、前記情報処理装置に接続した表示器に表示させるようにした。
請求項（抜粋）：
検出器ないし測定器を有し測定値を出力する測定装置と、該測定装置からの測定値および所定の演算プログラムに基づいて分析値を算出する情報処理装置とを備えた分析システムにおいて、標準試料を用いて測定・算出した分析値および/または該分析値に基づいて算出した測定装置の測定精度を示す値を時系列的に表示する表および/または図を、前記情報処理装置に接続した表示器に表示させるようにした分析システムにおける機器管理システム。
引用特許：
前のページに戻る
