特許

J-GLOBAL ID：200903072010706315

付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法

発明者： 勝田 稔三 ,  五反田 龍宏
出願人/特許権者： 国立大学法人 岡山大学
代理人 (1件)： 松尾 憲一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-173597
公開番号（公開出願番号）：特開2008-194441
出願日： 2007年06月30日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：

【課題】より短時間で半価層を計測可能とする付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法を提供する。【解決手段】X線源から照射されたX線の線量を検出する線量検出手段のX線源側に配置する半価層測定用の付加フィルタに、X線の透過方向を厚み方向として、厚み寸法をそれぞれ異ならせた複数の領域を備えたゲージ部を設ける。この付加フィルタを線量検出手段のX線源側に配置するステップと、線量検出手段にX線を照射して線量を検出し、線量が所定の減衰率となる半価層測定用の付加フィルタの厚みを半価層の厚さとするステップとによりX線の半価層の厚さを測定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

X線源から照射されたX線の線量を検出する線量検出手段の前記X線源側に配置する半価層測定用の付加フィルタであって、 前記X線の透過方向を厚み方向として、厚み寸法をそれぞれ異ならせた複数の領域を備えたゲージ部を有する付加フィルタ。

IPC (3件)：

A61B 6/00 ,  G21K 3/00 ,  G01T 1/36

FI (4件)：

A61B6/00 300Z ,  A61B6/00 390A ,  G21K3/00 W ,  G01T1/36 D

Fターム (11件)：

2G088BB09 ,  2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088GG30 ,  4C093AA01 ,  4C093CA34 ,  4C093EA02 ,  4C093EA11 ,  4C093EA20 ,  4C093EB28 ,  4C093GA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 放射線装置の較正方法及び放射線装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2002-558896   出願人：ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー