特許
J-GLOBAL ID：200903072132265948
R-T-B系磁石合金の金属組織評価方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-257671
公開番号（公開出願番号）：特開2008-058323
出願日： 2007年10月01日
公開日（公表日）： 2008年03月13日
要約：
【課題】希土類含有合金の金属組織を評価する有効な評価方法を提供する。【解決手段】R-T-B系磁石合金断面の顕微鏡組織をデジタル画像として取り込み、該顕微鏡組織画像上に合金の凝固面にほぼ平行な長さ(L)の直線を引き、該直線と交わるR2T14B主相とRリッチ相の輝度の差から両相を判別し、その直線上の輝度がR2T14B主相と判断される輝度からRリッチ相と判断される輝度に変化する回数(N)で、直線の長さ(L)を除した値(L/N)をRリッチ相間隔(r)として評価するR-T-B系磁石合金の金属組織評価方法とする。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
R-T-B系磁石合金断面の顕微鏡組織をデジタル画像として取り込み、該顕微鏡組織画像上に合金の凝固面にほぼ平行な長さ(L)の直線を引き、該直線と交わるR2T14B主相とRリッチ相の輝度の差から両相を判別し、その直線上の輝度がR2T14B主相と判断される輝度からRリッチ相と判断される輝度に変化する回数(N)で、直線の長さ(L)を除した値(L/N)をRリッチ相間隔(r)として評価することを特徴とするR-T-B系磁石合金の金属組織評価方法。
IPC (5件)：
G01N 21/27
, C22C 38/00
, H01F 1/053
, H01F 1/08
, H01F 1/06
G01N21/27 A
, C22C38/00 303D
, H01F1/04 H
, H01F1/08 B
, H01F1/06 A
2G059AA03
, 2G059BB08
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059KK04
, 4E004DB02
, 4E004TA03
, 5E040AA04
, 5E040BD01
, 5E040CA01
, 5E040HB17
, 5E040NN06
