特許
J-GLOBAL ID：200903072147297951
質量分析の方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉田 研二
, 石田 純
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-575983
公開番号（公開出願番号）：特表2005-500646
出願日： 2002年03月20日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：
質量分析計(10)は、霧状のイオンを発生するイオン源(12)を備える。この霧状のイオンは、イオン源ブロック(16)を通りイオンクーラー(20)に入る。所定のm/zのウィンドウ内のイオンは、4極質量フィルタ(24)を介して引き出されて、線形トラップ(30)に送られる。イオンは線形トラップ(30)内のポテンシャル井戸の中でトラップされ、出射区域(50)に隣接したポテンシャル井戸の底部で束にされる。イオンは線形トラップ(30)から静電気イオントラップ(130)に送られ、二次電子増倍管(10)によって検出される。イオンを放出する前に線形トラップ(30)の中でバンチングし、またイオンを静電気トラップ(130)の入射部上に飛行時間(TOF)内に集束することによって、イオンは同じm/zの短い活気に満ちたパケットの畳込みとして静電気トラップ(130)に到達する。そのようなパケットは、各パケットのTOF分布のFWHMが静電気トラップ内のこれらのイオンの発振周期よりも小さいために、静電気トラップに特に適している。
請求項（抜粋）：
静電気トラップ内にサンプルイオンを注入する方法であって、
(a)それぞれの質量対電荷比率がm/zである分析される複数のサンプルイオンを生成するステップと、
(b)複数の蓄積装置の極を有するイオン蓄積装置内の蓄積装置用入射部を通って前記サンプルイオンを受け取るステップと、
(c)トラッピング期間の少なくとも一部の間に前記蓄積装置内の容積ρの中に前記受け取ったサンプルイオンの少なくともある割合をトラップし、このようにトラップされたイオンのそれぞれが運動エネルギーEkを有して前記トラッピング期間又はその一部の間の前記容積ρ内の前記イオンの平均運動エネルギーが ̄Ekとなるように、前記蓄積装置にトラッピング電圧を供給するステップと、
(d)前記蓄積装置の前記容積の中に含まれた前記サンプルイオンの少なくともいくつかを蓄積装置用出射部から制御可能に解放するように前記蓄積装置に解放電圧を供給するステップであって、前記解放電圧は、前記容積ρにわたって前記イオンが受けた電位差が前記トラッピング期間又はその一部の間の前記平均運動エネルギー ̄Ekよりも大きいような大きさであり、かつさらに前記解放電圧は、前記容積ρにわたる任意の第1の点においてこれにより生成された電界の強度が、前記解放電圧を印加すると、前記容積ρにわたる任意の別の第2の点においてこれにより生成された電界の強度よりも50%以下又は小さくなるように、前記蓄積装置に前記解放電圧を供給するステップと、
(e)複数のトラッピング電極を有する静電気トラップの入射部を通って、ステップ(d)の基準に従って前記蓄積装置用出射部から解放されたこれらのサンプルイオンを受け取るステップであって、前記イオンが各m/zに対して束ねた飛行時間の分布の畳込みとして到着し、前記各分布が半値全幅(FWHM)を有するようなサンプルイオンを受け取るステップと、
(f)前記サンプルイオンが少なくとも1つの方向に周期的な発振を行う動きを描写するような電位を前記電極に加えることによって、前記受け取られたサンプルイオンを前記静電気トラップ内にトラップするステップと、
を含むことを特徴とする方法。
IPC (3件)：
H01J49/06
, G01N27/62
, H01J49/40
H01J49/06
, G01N27/62 B
, H01J49/40
