特許
J-GLOBAL ID：200903051518168761

質量分析計

発明者：
高田 安章

高田 安章 について

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照井 康

照井 康 について

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▲吉▼成 清美

▲吉▼成 清美 について

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鍋島 貴之

鍋島 貴之 について

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坂入 実

坂入 実 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-260841
公開番号（公開出願番号）：特開2001-084954
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：
【要約】【課題】イオントラップ型質量分析器を有する質量分析計において、過電流が流れて検出器の寿命が短くなるという課題があった。【解決手段】質量分析器と検出器との間にイオン偏向器を配置し、イオン閉じ込め時と分析時で偏向器に印加する電圧を切り替え、イオン閉じ込め時に不要な信号が検出器に到達することを防止した。【効果】検出器が保護され、長時間にわたって安定した測定が可能となった。
請求項（抜粋）：
試料に関するイオンを生成するイオン源と、該イオン源で生成されたイオンの質量を分析するイオントラップ型質量分析器と、および該イオントラップ型質量分析器により質量分離されたイオンを検出する検出器を備えた質量分析計において、前記イオントラップ型質量分析器から出射されたイオンが前記検出器に到達する前に前記イオントラップ型質量分析器のイオン閉じ込め区間と分析区間に応じてイオン方向を偏向するイオン偏向器を設けたことを特徴とする質量分析計。
IPC (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06
FI (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/06
Fターム (5件)：
5C038FF04 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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