特許
J-GLOBAL ID:200903072192760743

オンライン用分光分析計の計測値解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 堀田 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-128566
公開番号(公開出願番号):特開平11-326046
出願日: 1998年05月12日
公開日(公表日): 1999年11月26日
要約:
【要約】【課題】 オフライン用の検量線をオンライン用にも使用できるオンライン用分光分析計の計測値解析方法を提供する。【解決手段】 被測定物を化学的手法や物理的手法により分析しその特性値を明らかにしておき、オフラインの近赤外分光分析計により同じ被測定物のスペクトルを求め、このスペクトルと前記特性値との関係を表す検量線を求めておき、同じ種類の被測定物の中から少なくても1つのサンプルを選び、前記オフラインの近赤外分光分析計とオンラインの近赤外分光分析計とでスペクトルを求め、得られた両スペクトルの差を求めておき、前記オンラインの近赤外分光分析計で同じ種類の被測定物のスペクトルを測定し、この測定したスペクトルを前記両スペクトルの差で修正し、この修正スペクトルと前記検量線を用いて被測定物の特性値を推定する。
請求項(抜粋):
被測定物を化学的手法や物理的手法により分析しその特性値を明らかにしておき、オフラインの近赤外分光分析計により同じ被測定物のスペクトルを求め、このスペクトルと前記特性値との関係を表す検量線を求めておき、同じ種類の被測定物の中から少なくても1つのサンプルを選び、前記オフラインの近赤外分光分析計とオンラインの近赤外分光分析計とでスペクトルを求め、得られた両スペクトルの差を求めておき、前記オンラインの近赤外分光分析計で同じ種類の被測定物のスペクトルを測定し、この測定したスペクトルを前記両スペクトルの差で修正し、この修正スペクトルと前記検量線を用いて被測定物の特性値を推定することを特徴とするオンライン用分光分析計の計測値解析方法。
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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