特許

J-GLOBAL ID：200903072195876661

光サンプリング波形測定方法及び光サンプリング波形測定装置

発明者： 白根 昌之 ,  横山 弘之 ,  山田 博仁 ,  栗田 寿一
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 西村 征生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-003036
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194241
出願日： 2000年01月11日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】 長距離の光伝送路を介して伝送された超高速の被測定光のパルスの波形でも十分な時間分解能を持って実時間で測定する。【解決手段】 開示される光サンプリング波形測定方法は、繰り返し周波数f0を有する被測定光に基づいて繰り返し周波数f0と常に一定の繰り返し周波数差Δfとなる繰り返し周波数fsを有するサンプリング光を生成する。

請求項（抜粋）：

測定すべき被測定光と、前記被測定光のパルス幅より十分狭いパルス幅を有するサンプリング光とを非線形光学材料に入射し、前記非線形光学材料から出射された前記被測定光と前記サンプリング光との強度相互相関光に基づいて、前記被測定光の波形を測定する光サンプリング波形測定方法であって、前記被測定光に基づいて、前記被測定光の繰り返し周波数と常に一定の繰り返し周波数差となる繰り返し周波数を有するサンプリング光を生成することを特徴とする光サンプリング波形測定方法。

IPC (3件)：

G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H01S 5/065

FI (3件)：

G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H01S 5/065

Fターム (30件)：

2G065AA12 ,  2G065AB09 ,  2G065AB10 ,  2G065AB14 ,  2G065AB26 ,  2G065BA01 ,  2G065BB02 ,  2G065BB04 ,  2G065BC01 ,  2G065BC07 ,  2G065BC14 ,  2G065BC22 ,  2G065BC31 ,  2G065BD01 ,  2G065DA13 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002AB30 ,  2K002CA02 ,  2K002CA15 ,  2K002DA10 ,  2K002HA19 ,  2K002HA31 ,  5F073AB30 ,  5F073BA01 ,  5F073EA29 ,  5F073GA02 ,  5F073GA12 ,  5F073HA08 ,  5F073HA11

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光信号品質モニタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-229659   出願人：日本電信電話株式会社
• 光クロック抽出回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-147925   出願人：日本電気株式会社
• 光サンプリング光波形測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-165566   出願人：日本電信電話株式会社