特許
J-GLOBAL ID：200903072276081337
X線分析法における試料調整法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉本 修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-128132
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311131
出願日： 1994年05月17日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：
【要約】【目的】 分析対象元素が揮散し易いものでも、濾紙点滴法を用いてX線分析可能とする。【構成】 液体試料中に含まれた分析対象元素と反応して不揮発性生成物を作る安定化剤1を濾紙1に点滴し、つづいて、濾紙1における安定化剤2が点滴された部分20に液体試料3を点滴する。
請求項（抜粋）：
液体試料を濾紙に点滴してX線分析の対象である被測定試料を作る試料調整法において、上記液体試料中に含まれた分析対象元素と反応して不揮発性生成物を作る安定化剤を濾紙に点滴することを特徴とするX線分析法における試料調整法。
IPC (2件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (1件)
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