特許
J-GLOBAL ID：200903072348239593
回路基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
蔵合 正博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-199724
公開番号（公開出願番号）：特開平11-044724
出願日： 1997年07月25日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：
【要約】【課題】 接触検査におけるプローブ接触に関する誤動作の問題や、非接触検査における電気的動作状態での故障部位の特定精度の低下の問題を解決する。【解決手段】 被検査回路基板1を動作または非動作状態とし、高周波信号源2からの周波数がそれぞれ異なる信号を、非接触電磁誘導を利用した電磁プローブ部3を介して、被検査回路基板1の各回路パターンに入力して励振する。各回路パターンから放射された電磁波を微小アンテナ4で検出し、信号選択回路5で順次選択して、スペクトラムアナライザ6またはメジャリングレシーバで高周波信号のレベルを周波数成分別に検出し、信号解析制御部7で各微小アンテナ毎に周波数成分のレベルを解析することで、回路パターンが故障した場合に、その部位と回路信号ノードを特定することができる。
請求項（抜粋）：
周波数の異なる複数の高周波信号発生手段と、前記高周波発生手段から出力された複数の高周波信号を被検査回路基板の複数の回路パターンにそれぞれ対応させて誘導結合して励振する非接触電磁誘導プローブ手段と、前記被検査回路基板の回路パターンから放射される電磁波を検出する複数の微小アンテナと、前記複数の微小アンテナからの高周波信号を順次選択する信号選択手段と、前記信号選択手段からの出力を周波数領域で信号解析を行う信号解析手段とを備え、特定位置の微小アンテナから検出された信号の周波数成分を解析することで、被検査回路基板の故障の部位および回路パターンを特定することを特徴とする回路基板検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G01R 31/00
, G01R 31/302
G01R 31/02
, G01R 31/00
, G01R 31/28 L
