特許
J-GLOBAL ID：200903072388926429

測定データ判定システム及び測定器校正システム

発明者：
大村 伸一

大村 伸一 について


出願人/特許権者：
東芝エンジニアリング株式会社

東芝エンジニアリング株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-376781
公開番号（公開出願番号）：特開2003-178390
出願日： 2001年12月11日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
要約：
【要約】【課題】 プラント等で測定器を使用して測定したデータの良否判断及び使用した測定器の校正証明書の発行に際しては、測定器メーカあるいは実際に測定を行なった業者が必要な都度行なわなければならず、長期間かつ高額な費用を要していた。【解決手段】 インターネット等の公衆通信網を利用し、測定データの良否判断を保管されている基準データを利用して実施、測定器の校正証明書の発行を計器メーカまたは計器メーカから校正証明書発行に関するデータの提供を受けたせービス業者が行なうことができるようにした。
請求項（抜粋）：
公衆通信網に接続され測定データ良否判定のための基準データを保有している測定データ良否判定手段と、前記公衆通信網に接続されている測定手段と、この測定手段で測定し採取された測定データを前記公衆通信網を介して前記測定データ良否判定手段へ送信し、前記基準データを利用して前記測定データの良否を判定することを特徴とする測定データ判定システム。
IPC (3件)：
G08C 25/00 ,  G01D 18/00 ,  G06F 17/60 140
FI (3件)：
G08C 25/00 H ,  G01D 18/00 ,  G06F 17/60 140
Fターム (14件)：
2F073AA40 ,  2F073AB02 ,  2F073AB03 ,  2F073AB12 ,  2F073BB20 ,  2F073CC01 ,  2F073DD02 ,  2F073EE03 ,  2F073GG01 ,  2F076AA15 ,  2F076AA18 ,  2F076BA05 ,  2F076BE16 ,  2F076BE17
引用特許：
審査官引用 (3件)

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