特許

J-GLOBAL ID：200903072630936795

部品検査装置

発明者： 千葉 玲
出願人/特許権者： 株式会社トーキン
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-217258
公開番号（公開出願番号）：特開2001-038539
出願日： 1999年07月30日
公開日（公表日）： 2001年02月13日
要約：

【要約】【課題】 仕様ごとに検査ステージ及び検査ステージへの供給、排出装置を変更する必要がなく、その上、導通不良が発生しない部品検査装置を提供する。【解決手段】 ワークa1,b2をそれぞれ載置した治具a3,b4を供給する供給コンベア11と、この治具a3,b4を排出する排出コンベア12と、供給コンベア11と排出コンベア12の間に位置し、ワークa1,b2を検査する検査ステージ8と、治具a3,b4を供給コンベア11、検査ステージ8、排出コンベア12の順に移動させるピックアンドプレースユニット10とで構成する。ワークの種類ごとに治具の組み合わせを変えても、ワークの上面から治具の底面までの高さを常に一定に保つ。

請求項（抜粋）：

形状の異なるワークを、該ワークの種類ごとに異なる治具に載置して検査する部品検査装置であって、前記ワークを載置した治具を供給する供給装置と、該治具を排出する排出装置と、前記供給装置と前記排出装置の間に位置し、前記ワークを検査する検査ステージと、前記治具を前記供給装置、前記検査ステージ、前記排出装置の順に移動させるピックアンドプレースユニットとから構成され、前記ワークの種類ごとに前記治具の組み合わせを変えた際、前記ワークの上面から前記治具の底面まで、一定の高さを有することを特徴とする部品検査装置。

IPC (3件)：

B23P 19/00 303 ,  B23P 19/00 302 ,  B23P 19/00

FI (3件)：

B23P 19/00 303 Z ,  B23P 19/00 302 H ,  B23P 19/00 302 R

Fターム (7件)：

3C030DA02 ,  3C030DA08 ,  3C030DA26 ,  3C030DA28 ,  3C030DA34 ,  3C030DA36 ,  3C030DA37

引用特許：

審査官引用 (1件)

• パレットを用いた搬送装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-292894   出願人：三洋機工株式会社