特許
J-GLOBAL ID：200903072666294315
バイオフィルムを評価する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
松本 研一
, 小倉 博
, 伊藤 信和
, 黒川 俊久
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-503941
公開番号（公開出願番号）：特表2005-525551
出願日： 2003年04月28日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：
共焦点画像化システムを用いる、複数の表面上でのバイオフィルムの発達を測定する自動化方法であって、このシステムは、a)1以上の波長を含む電磁放射線のビームを形成する放射線源システムと、b)対象物の1以上の面上にこのビームを指向しかつ集束する光学システムと、c)この対象物から放射される電磁放射線を検出して、画像データを作製する検出システムと、d)この電磁放射線を用いて複数の面においてこの対象物をスキャンする走査システムとを備え、この方法は、i)この複数の表面上でバイオフィルムを成長させる工程と、ii)複数の面において電磁放射線を用いてこのバイオフィルムをスキャンして複数の画像を作成することによってこのバイオフォルム内の1以上の蛍光部分の存在を検出する工程と、iii)コンピューターソフトウェアの制御下にデータ処理システムによってこの画像を解析してこのバイオフィルムの構造を決定する工程からなる。
請求項（抜粋）：
共焦点画像化システムを用いる、複数の表面上でのバイオフィルムの発達を測定する自動化方法であって、該共焦点画像化システムは、
a)1以上の波長を含む電磁放射線のビームを形成する手段と、
b)バイオフィルムの1以上の面上に該ビームを指向しかつ集束する手段と、
c)該バイオフィルムから放射される電磁放射線を検出する検出デバイスと、
d)該電磁放射線を用いて複数の面において該バイオフィルムをスキャンする走査デバイスと、
を備え、該方法は、
i)該複数の表面上で該バイオフィルムを成長させる工程と、
ii)複数の面において電磁放射線を用いて該バイオフィルムをスキャンして複数の画像を作成することによって、該バイオフォルム内の1以上の蛍光部分の存在を検出する工程と、
iii)コンピューターソフトウェアの制御下にデータ処理システムによって該画像を解析して該バイオフィルムの構造を決定する工程と、
を包含する、方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA07
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043LA02
