特許
J-GLOBAL ID:200903025771865621
共焦点顕微鏡イメージングシステム
発明者:
,
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-537103
公開番号(公開出願番号):特表2002-507762
出願日: 1999年03月16日
公開日(公表日): 2002年03月12日
要約:
【要約】伸長したビームを使用する共焦点イメージングシステム。特異的態様は、電荷結合素子(CCD)を備えた装置に関し、装置は蛍光対象観察に使用する。
請求項(抜粋):
a)それに沿って放射が伝搬される、光軸に横向きに伸びる電磁放射の伸長したビームを形成する手段;b)対象が位置する第1平面における第1伸長した領域に伸長したビームを向け、集束させる手段、および対象から放射される電磁放射を1個またはそれ以上の伸長した第2領域に向ける手段であり、各第2伸長した領域は第1平面に接合した異なる第2平面上である;c)第2接合面の最後の一つにおいて、または少なくとも一つの第2接合平面に接合した第3平面において、対象から放射される電磁放射が一致する検出エレメントの方形アレイを含む検出デバイス;そしてd)放射された電磁放射が検出エレメントの方形アレイに送達され、検出デバイスにより放射された電磁放射を走査と同調して示す多くの電子シグナルに変換されるように、対象に対して伸長したビームを動かすことにより、または対象を伸長したビームに対して動かすことにより対象を走査する手段:を含む、共焦点イメージングシステム。
IPC (4件):
G02B 21/00
, G01N 21/64
, G01N 33/15
, G01N 33/50
FI (4件):
G02B 21/00
, G01N 21/64 E
, G01N 33/15 Z
, G01N 33/50 Z
Fターム (46件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA02
, 2G043GA07
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G043NA05
, 2G045AA25
, 2G045AA28
, 2G045CB01
, 2G045CB21
, 2G045DA12
, 2G045DA13
, 2G045DA14
, 2G045DA20
, 2G045DA36
, 2G045DB03
, 2G045FA16
, 2G045FA34
, 2G045FA36
, 2G045FB01
, 2G045FB02
, 2G045FB03
, 2G045HA14
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AB24
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AC06
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AD09
, 2H052AF14
引用特許:
審査官引用 (17件)
-
検出光学系並びに立体形状検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-134668
出願人:株式会社日立製作所
-
特表平5-502305
-
特表平5-502305
全件表示
前のページに戻る