特許
J-GLOBAL ID:200903072678509406

X線撮影方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 橘 哲男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-098085
公開番号(公開出願番号):特開2001-281172
出願日: 2000年03月31日
公開日(公表日): 2001年10月10日
要約:
【要約】【課題】 X線で試料を透視撮影する場合において、試料の薄い部分で検出器が飽和しない程度の弱いX線で撮影すると、撮影視野内の厚い部分では透過するX線が少ないため全く情報が得られないか、雑音が多くなるという問題があった。【解決手段】 X線発生器と、該X線発生器と対向した位置に設けられた検出器2とからなり、前記X線発生器と前記検出器との間に試料を介在させて試料を撮影するX線撮影装置において、前記X線発生器の管電流を少なくとも2回以上可変して検出器で受け、かつ、該検出器で受けた少なくとも2枚以上画像を合成するようにしたX線撮影方法である。
請求項(抜粋):
X線発生器と、該X線発生器と対向した位置に設けられた検出器とからなり、前記X線発生器と前記検出器との間に試料を介在させて試料を撮影するX線装置において、前記X線発生器の管電流を少なくとも2回以上可変して検出器で受け、かつ、該検出器で受けた少なくとも2枚以上の画像を合成したことを特徴とするX線撮影方法。
IPC (6件):
G01N 23/04 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 3/00 300 ,  G06T 5/00 100 ,  H04N 1/387 ,  H05G 1/34
FI (6件):
G01N 23/04 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 3/00 300 ,  G06T 5/00 100 ,  H04N 1/387 ,  H05G 1/34 Z
Fターム (41件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001GA11 ,  2G001HA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001JA20 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001LA05 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  4C092AA01 ,  4C092AB03 ,  4C092AB04 ,  4C092AC01 ,  4C092CC10 ,  4C092CD03 ,  4C092CF47 ,  4C092CJ25 ,  5B057AA03 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE01 ,  5B057CE08 ,  5B057CE11 ,  5B057DA03 ,  5C076AA19 ,  5C076AA27 ,  5C076BA06
引用特許:
審査官引用 (18件)
  • 撮像方法および撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-065251   出願人:株式会社日本製鋼所
  • 特開昭58-127153
  • 特開平4-150839
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