特許

J-GLOBAL ID：200903072778346482

米粒品位判別装置

発明者： 佐竹 覺 ,  池田 学
出願人/特許権者： 株式会社佐竹製作所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-130666
公開番号（公開出願番号）：特開平9-292344
出願日： 1996年04月25日
公開日（公表日）： 1997年11月11日
要約：

【要約】【目的】 光学的受光手段の構成を簡略化して製造コストを安価にするとともに、演算処理回路への入力電圧の変動が少ない米粒品位判別装置を提供する【構成】 試料採取孔5により移送される一粒の試料穀粒に対し傾斜上方から光線を照射する光源7と、前記試料穀粒からの垂直反射光量を長波長成分と短波長成分とにそれぞれ区分するダイクロイックミラー8と、区分されたそれぞれの波長の光量を受光する二つの受光素子9,10と、前記試料穀粒からの垂直透過光量を受光する透過光受光素子11とを設けるとともに、前記光源7により一粒の試料穀粒に対し傾斜上方から光線を照射し、前記試料穀粒からの斜方透過光量を受光する胴割れ検出用受光素子12を設ける

請求項（抜粋）：

外周縁の円周方向に等間隔に複数の試料採取孔を有する回転円板と、前記試料採取孔により移送される試料米粒の各一粒毎に光線を照射する光源と、該光源により照射して得られた前記試料米粒の透過反射光量を検出する検知部と、該検知部から入力された検出信号を所定値と比較して前記試料米粒の品質ランクを決定する判定制御部とを備えた米粒品位判別装置であって、前記検知部は、前記試料採取孔により移送される一粒の試料米粒に対し前記光源から誘導された光線を傾斜上方二箇所から照射する第一照射部と、前記試料米粒からの垂直反射光量を長波長成分(R)と短波長成分(G)とにそれぞれ区分するダイクロイックミラーと、区分されたそれぞれの波長の光量を受光する二つの受光素子と、前記試料米粒からの垂直透過光量(T)を受光する透過光受光素子とを設けるとともに、前記光源からの光線を前記試料米粒に対し傾斜上方から照射する第二照射部と、該第二照射部により照射して得られた前記試料穀粒からの斜方透過光量を受光する胴割れ検出用受光素子とを設けたことを特徴とする米粒品位判別装置。

IPC (2件)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/27

FI (2件)：

G01N 21/85 A ,  G01N 21/27 B

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平1-161136
  
• 米粒判別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-208646   出願人：株式会社ケット科学研究所