特許
J-GLOBAL ID:200903072786919815

非破壊透過式光測定装置用校正器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 上田 章三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-108475
公開番号(公開出願番号):特開2000-039397
出願日: 1999年04月15日
公開日(公表日): 2000年02月08日
要約:
【要約】【課題】 非破壊透過式光測定装置の校正について被測定物を破壊することなく高精度に、再現性良くかつ簡便・短時間で行える非破壊透過式光測定装置用校正器を提供すること。【解決手段】 被測定物Mに対しその光入射部から光を入射させかつ被測定物内を透過してきた光を上記光入射部とは別の部位に設定された光出射部において検出しその光吸収測定(例えば吸収係数の測定)により被測定物中に含まれる特定成分を定量的に測定する非破壊透過式光測定装置に適用される校正器1であって、光の入射口3と出射口4を備えその内部には特定成分と同一若しくは類似の光吸収特性を有する物質(ショ糖液)2が充填されていると共に入射口から出射口までの光路長が被測定物内を透過する光の実効的光路長L’と同一若しくは略同一に設定された直線状筒体(密封体)11によりその主要部が構成されていることを特徴とする。
請求項(抜粋):
被測定物に対しその光入射部から光を入射させかつ被測定物内を透過してきた光を上記光入射部とは別の部位に設定された光出射部において検出しその光吸収測定により被測定物中に含まれる特定成分を定量的に測定する非破壊透過式光測定装置に適用される校正器において、光の入射口と出射口を備えその内部には上記特定成分と同一若しくは類似の光吸収特性を有する物質が充填されていると共に入射口から出射口までの光路長が上記被測定物内を透過する光の実効的光路長と同一若しくは略同一に設定された密封体によりその主要部が構成されていることを特徴とする非破壊透過式光測定装置用校正器。
IPC (3件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/35
FI (3件):
G01N 21/27 F ,  G01N 21/01 A ,  G01N 21/35 Z
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 分光分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-202879   出願人:株式会社佐竹製作所
  • 果実の糖度測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-170918   出願人:石川島芝浦機械株式会社
  • 特開平3-103752
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審査官引用 (4件)
  • 分光分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-202879   出願人:株式会社佐竹製作所
  • 果実の糖度測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-170918   出願人:石川島芝浦機械株式会社
  • 特開平3-103752
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