特許
J-GLOBAL ID：200903072887465491
樹体生産能力を評価する方法、樹体生産能力を評価するための撮像装置及び樹体生産能力を評価するためのプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
富崎 元成
, 円城寺 貞夫
, 町田 光信
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2006325084
公開番号（公開出願番号）：WO2007-069736
出願日： 2006年12月15日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
要約：
【課題】 孤立した樹体または間隔をおいた樹体について、樹冠構造測定装置または魚眼レンズを装着した撮像装置を用いて非破壊的な手法により、多くの時間を要さずに樹体生産力を評価できるようにする。【解決手段】 樹体の外形を表すものとして回転半長円体モデルを決定し、主幹から所定の距離の位置に光学的樹体構造測定装置を配置して測定した樹葉を透過した光の強度と、樹葉を透過しない光の強度とを測定し、半長円体モデルにより樹体への入射した光が通過する光路長を計算し、測定された光の強度と、光路長とから樹体総葉面積を求める。光学的樹体構造測定装置の代わりに魚眼レンズを装着した撮像装置を配置し、撮像により取得された画像データについての演算処理によっても樹体総葉面積が求められる。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
孤立して存在する樹体または間隔をおいて複数存在する個々の樹体について樹体の透過光を測定することにより樹体生産能力を評価する方法であって、
1本の樹体の主幹を軸として樹高及び平均樹冠半径をそれぞれ2つの径とする上に凸の回転半長円体とする回転半長円体モデルを決定することと、
該主幹から所定の距離だけ離れた地面近辺の位置に光学的樹体構造測定装置を入射光軸が水平面に対して垂直上方に向くようにして配置して該光学的樹体構造測定装置により測定対象となる複数の天頂角で入射し樹葉を通過した光の強度を測定することと、
天空からの光が遮られない位置に光学的樹体構造測定装置を入射光軸が水平面に対して垂直上方に向くようにして配置して該光学的樹体構造測定装置により測定対象となる前記複数の天頂角での樹葉を通過しない光の強度を測定することと、
前記複数の天頂角で入射し樹葉を通過した光の強度と樹葉を通過しない光の強度とから該複数の天頂角での空隙率を求めることと、
測定対象とする前記複数の天頂角に対して入射光が回転半楕円体モデルでの回転半楕円体面における入射点から前記光学的樹体構造測定装置までに通過する光路長及び樹冠体積を回転半長円体モデルに基づいて計算することと、
前記複数の天頂角での空隙率と前記複数の天頂角に対応する光路長とから各天頂角に対応する光の減衰量を求めることと、
該光の減衰量から葉面積密度を求めこれと前記樹冠体積とから樹体総葉面積を求めることと、
からなることを特徴とする樹体生産能力を評価する方法。
IPC (3件)：
A01G 23/00
, A01G 7/00
, G06T 1/00
A01G23/00 551Z
, A01G7/00 603
, G06T1/00 280
5B057AA15
, 5B057BA02
, 5B057BA15
, 5B057DA12
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC04
, 5B057DC09
, 5B057DC22
