特許
J-GLOBAL ID：200903072945205403

光モジュールの光軸測定方法

発明者：
冨米野 毅

冨米野 毅 について

, 
飯塚 晋一郎

飯塚 晋一郎 について


出願人/特許権者：
古河電気工業株式会社

古河電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 長門 侃二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-178718
公開番号（公開出願番号）：特開平9-033236
出願日： 1995年07月14日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：
【要約】【課題】 光モジュールの光軸測定に際し、パッケージ外周面と光モジュールの光軸との間にずれがあっても、パッケージの位置再現性に優れ、パッケージの外周形状とは無関係に光モジュールの光軸を高い精度で測定することが可能な光モジュールの光軸測定方法を提供する。【解決手段】 光部品が収納され、光モジュールを構成するパッケージ2の基準面2aを光学測定系20の基準光軸LS に対して垂直に修正した後、光学測定系の基準光軸とパッケージの光軸とのなす変位角を測定する。
請求項（抜粋）：
光部品が収納され、光モジュールを構成するパッケージの基準面を光学測定系の基準光軸に対して垂直に修正した後、前記光学測定系の基準光軸と前記パッケージの光軸とのなす変位角を測定することを特徴とする光モジュールの光軸測定方法。
IPC (5件)：
G01B 11/27 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G02B 6/26 ,  G02B 6/42
FI (5件)：
G01B 11/27 H ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A ,  G02B 6/26 ,  G02B 6/42
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (1件)

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