特許
J-GLOBAL ID：200903073011778243

自動分析装置

発明者：
大沼 武彦

大沼 武彦 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-043607
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251802
出願日： 2003年02月21日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：
【課題】光源ランプの劣化等を検出する新たな検出装置等を設けることなく、光源ランプの劣化や恒温液の汚染等を的確に捕らえることができる自動分析装置を提供する。【解決手段】反応管4aと、反応管4aを複数収納した反応管ホルダ4と、反応ディスクと、光源ランプ及び受光センサを備えた光学系13と、測光データを得る演算手段40と、制御手段50とを有し、演算手段40は得られた測光データのうち、検体を介さない測光データの変動に基づいて測光系の異常を検知することを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
反応管と、それら反応管を複数収納した反応管ホルダと、係る反応管ホルダを複数連結して円環状に収納し、回動可能とされた反応ディスクと、恒温液及び前記反応管ホルダを介在させて測光するように設置された光源ランプ及び受光センサを備えた光学系と、前記光源ランプの光が前記反応管ホルダを介して前記受光センサに検知されることによって測光データを得る演算手段と、前記反応ディスクを回動動作させると共に、その回動動作に基づいて前記演算手段を制御する制御手段とを有してなる自動分析装置であって、 前記演算手段は得られた測光データのうち、検体を介さない測光データの変動に基づいて測光系の異常を検知することを特徴とする自動分析装置。
IPC (3件)：
G01N35/00 ,  G01N35/02 ,  G01N35/04
FI (4件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/00 B ,  G01N35/02 G ,  G01N35/04 A
Fターム (7件)：
2G058BB15 ,  2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058ED03 ,  2G058GA02 ,  2G058GE09
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特開平1-297535
  • 特開昭63-101758
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-136241   出願人：株式会社日立製作所

前のページに戻る

TOP

BOTTOM