変位/ひずみ計測方法及び変位/ひずみ計測装置

発明者： , , , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (2件)：角田芳末 , 伊藤仁恭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-368334
公開番号（公開出願番号）：特開2007-170955
出願日： 2005年12月21日
公開日（公表日）： 2007年07月05日
要約：

【課題】より簡易に且つ高精度に計測できる変形/ひずみ計測方法及びその計測装置を提供する。【解決手段】被測定物2の表面2Aに密着もしくは近接させたラインスキャナ装置3により撮像した被測定物表面2Aの画像を取り込み、被測定物表面2Aの経時前の画像と、経時後の画像から画像解析により変位もしくはひずみを計測し、変位もしくはひずみの計測結果を出力する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定物の表面に密着もしくは近接させたラインスキャナ装置により撮像した被測定物表面の画像を取り込み、前記被測定物表面の経時前の画像と、経時後の画像から画像解析により変位もしくはひずみを計測し、前記変位もしくはひずみの計測結果を出力することを特徴とする変位/ひずみ計測方法。

IPC (2件)：

G01B 11/00 , G01B 11/16

FI (2件)：

G01B11/00 H , G01B11/16 H

Fターム (29件)：

2F065AA04 , 2F065AA20 , 2F065AA65 , 2F065CC14 , 2F065DD03 , 2F065FF04 , 2F065FF16 , 2F065GG04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ05 , 2F065JJ25 , 2F065MM07 , 2F065MM08 , 2F065MM14 , 2F065MM15 , 2F065MM24 , 2F065MM25 , 2F065MM28 , 2F065PP02 , 2F065PP03 , 2F065PP22 , 2F065QQ17 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ29 , 2F065QQ31 , 2F065RR09 , 2F065UU05 , 2F065UU06

引用特許：

出願人引用 (1件)

画像データの90度回転処理方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-201162 出願人：三田工業株式会社

審査官引用 (4件)

表面変位計測方法および表面変位計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-253163 出願人：福岡県
形状入力方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-223884 出願人：日本電信電話株式会社
特開昭62-170804

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