特許
J-GLOBAL ID：200903073250754968
内部特性分布の計測方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-118598
公開番号（公開出願番号）：特開平11-311569
出願日： 1998年04月28日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：
【要約】【課題】 従来の画像再構成アルゴリズムを採用した光CT装置に比べて、散乱吸収体の内部特性の位置的関係のみならず絶対値分布(定量性)についてもより精度(再現性)の高い測定が可能な方法及び装置を提供すること。【解決手段】 光入射ステップと光検出ステップと所定パラメータ測定値取得ステップと基準値設定ステップと内部特性変化量算出ステップと内部特性絶対値算出ステップとを含む内部特性分布の計測方法であって、前記内部特性変化量算出ステップにおいて、下記式:(内部特性の変化量の総和)=定数で表わされる拘束条件を付加しつつ前記パラメータの測定値と基準値との差に基づいて前記内部特性の変化量を算出することを特徴とする、前記内部特性分布の計測方法。
請求項（抜粋）：
測定対象物の表面における複数の光入射位置から順次該対象物中に測定光を入射する光入射ステップと、該対象物中を透過した測定光を、前記対象物の表面における複数の光検出位置で順次あるいは同時に検出する光検出ステップと、各光検出位置で検出された各測定光に基づいて、該測定光の所定パラメータの測定値を求める測定値取得ステップと、前記対象物の前記パラメータの基準値及びそれに対応する所定内部特性の基準値を設定する基準値設定ステップと、前記パラメータの測定値と基準値との差に基づいて、複数の領域に分割された前記対象物の各領域における前記内部特性の基準値に対する該内部特性の変化量を算出する内部特性変化量算出ステップと、前記内部特性の変化量及び基準値に基づいて該内部特性の絶対値を算出して前記対象物における該内部特性の絶対値分布を求める内部特性絶対値算出ステップと、を含む内部特性分布の計測方法であって、前記内部特性変化量算出ステップにおいて、下記式:(内部特性の変化量の総和)=定数で表わされる拘束条件を付加しつつ前記パラメータの測定値と基準値との差に基づいて前記内部特性の変化量を算出することを特徴とする、前記内部特性分布の計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
引用文献：
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