特許

J-GLOBAL ID：200903073344014020

光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク装置、及び、光ディスク

発明者： 中根 和彦 ,  大畑 博行
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-222003
公開番号（公開出願番号）：特開2000-057713
出願日： 1998年08月05日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】 欠陥管理を行う光ディスクにおいて、欠陥セクタの判定基準をその用途に対応したものに設定することができる光ディスク及び、かかる光ディスクを用いた欠陥管理方法を得る。【解決手段】 光ディスクの使用時に、交替処理の必要な欠陥セクタの判定基準を、用途に応じて適切に選択・設定するように構成した。コンピュータデータの記録用には相対的に厳しい判定基準を与えて信頼性を確保し、可能な限り連続的に録画したいビデオの記録用には相対的に緩い判定基準を与える。これにより、高信頼性を要求される用途と、連続動作を要求される用途に応じて光ディスクを使い分けることができる。適用した欠陥セクタの判定基準は光ディスクの各セクタに制御情報として記録しておく。

請求項（抜粋）：

光ディスクの欠陥セクタの交替処理を行う欠陥管理方法であって、ディスクを初期化した後ユーザデータを記録する時、記録開始に先立ち、または、記録開始と同時に該記録セクタの欠陥の有無を判定する欠陥判定基準を複数の基準から選択して設定するようにしたことを特徴とする光ディスクの欠陥管理方法。

IPC (7件)：

G11B 20/18 552 ,  G11B 20/18 550 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18 ,  G11B 7/00 ,  G11B 20/10 ,  G11B 20/12

FI (7件)：

G11B 20/18 552 A ,  G11B 20/18 550 C ,  G11B 20/18 572 C ,  G11B 20/18 572 F ,  G11B 7/00 H ,  G11B 20/10 C ,  G11B 20/12

Fターム (18件)：

5D044AB07 ,  5D044BC06 ,  5D044CC04 ,  5D044DE03 ,  5D044DE12 ,  5D044DE64 ,  5D044DE66 ,  5D044GK19 ,  5D090AA01 ,  5D090BB04 ,  5D090CC01 ,  5D090CC04 ,  5D090CC11 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090FF27 ,  5D090FF38 ,  5D090HH01

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 欠陥領域管理方法及び記録再生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-281120   出願人：松下電器産業株式会社
• 情報記録再生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-294740   出願人：三菱電機株式会社
• 特開平3-083227
  
• 特開平3-083227