特許
J-GLOBAL ID：200903073392218494

光走査装置及びその異常検出方法

発明者：
若林 修一

若林 修一 について

, 
清水 武士

清水 武士 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  須澤 修 ,  宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-047304
公開番号（公開出願番号）：特開2009-204904
出願日： 2008年02月28日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】ミラーの反射率低下や光軸ずれ等の起因する異常を検出可能な表示装置及びその異常検出方法を提供する。【解決手段】本実施形態に係る光走査装置は、光源と、光源から出射された光を偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数のミラー1,104を含む光学系と、各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で光学系を通過した光を受光し、受光した光を吸収する光吸収部材106aと、光吸収部材106aの温度を測定する温度センサ106と、温度センサ106により測定された光吸収部材106aの温度上昇値と、基準温度上昇値とを比較して、比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定手段113と、を有する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
光源と、 前記光源から出射された光を偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数の ミラーを含む光学系と、 各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で前記光学系を通過した光を受光し、受 光した光を吸収する光吸収部材と、 前記光吸収部材の温度を測定する温度センサと、 前記温度センサにより測定された前記光吸収部材の温度上昇値と、基準温度上昇値とを 比較して、比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定手段と、 を有する光走査装置。
IPC (4件)：
G02B 26/10 ,  G03B 21/00 ,  B41J 2/44 ,  H04N 1/036
FI (5件)：
G02B26/10 Z ,  G02B26/10 B ,  G03B21/00 Z ,  B41J3/00 D ,  H04N1/036 Z
Fターム (35件)：
2C362AA10 ,  2C362BA17 ,  2C362BA87 ,  2C362EA01 ,  2H045AB16 ,  2H045AB81 ,  2H045BA13 ,  2H045BA24 ,  2H045BA32 ,  2H045CB42 ,  2H045DA31 ,  2H045DA41 ,  2K103AA29 ,  2K103BA11 ,  2K103BC03 ,  2K103BC19 ,  2K103BC39 ,  2K103BC47 ,  2K103CA12 ,  2K103CA54 ,  2K103DA01 ,  2K103DA24 ,  5C051AA02 ,  5C051CA07 ,  5C051CA11 ,  5C051DA02 ,  5C051DB02 ,  5C051DB07 ,  5C051DB24 ,  5C051DB26 ,  5C051DB30 ,  5C051DC01 ,  5C051DC07 ,  5C051DE04 ,  5C051DE12
引用特許：
出願人引用 (1件)

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