SQUID磁気センサを用いた非磁性金属配管の非破壊検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-037517
公開番号（公開出願番号）：特開2007-218649
出願日： 2006年02月15日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：

【課題】非磁性金属配管の穴状欠陥検出をSQUID磁気センサを用いて行う際、大きな電流を流しても、SQUID磁気センサに磁束トラップが発生せず、1mm以下の微小な穴状欠陥を検出可能とする。併せて装置の小型化を実現する。【解決手段】扁平非磁性配管6の両側面に、電気的に絶縁した導電性帯状テープ4を押し付ける。扁平非磁性配管6に電流を印加したとき、導電性帯状テープ4に帰還電流が流れる構造とし、印加電流の形成する磁場を、帰還電流による磁場が相殺するため、大きな電流を印加することができ、磁束トラップも発生しにくい。導電性帯状テープ4が押し付けられた状態で、扁平非磁性配管6を、SQUID磁気センサ12の直下で移動させ、扁平非磁性配管6にある穴状欠陥によって発生する磁場の乱れを計測しる。導電性帯状テープ4は外部から供給され、装置は小型化が可能となる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

SQUID磁気センサを用いた非磁性金属配管の貫通穴状欠陥検出において、該非磁性金属配管の両側面を、該非磁性金属配管と電気的に絶縁された1対の非磁性導体で挟み、該非磁性金属配管と該非磁性導体の一端を電気導通させ、該非磁性金属配管に交流電流を注入し、該交流電流の復路とする該非磁性導体を還流する電流が形成する磁場によって、該注入電流がSQUID磁気センサ近傍に形成する磁場を相殺する機構を有することを特徴とする非破壊検査装置。

IPC (3件)：

G01N 27/82 , G01R 33/035 , G01R 33/12

FI (3件)：

G01N27/82 , G01R33/035 , G01R33/12

Fターム (20件)：

2G017AA02 , 2G017AB01 , 2G017AC02 , 2G017AD32 , 2G017CB08 , 2G017CB11 , 2G017CC02 , 2G053AA11 , 2G053AB01 , 2G053BA02 , 2G053BA12 , 2G053BA23 , 2G053BA26 , 2G053BB03 , 2G053BC02 , 2G053BC08 , 2G053BC17 , 2G053CA10 , 2G053CA18 , 2G053CB16

引用特許：

出願人引用 (1件)

非磁性金属管の表面欠陥検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-081409 出願人：住友軽金属工業株式会社, 田中三郎

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