特許

J-GLOBAL ID：200903073529742757

適応制御システムおよび状態判定装置

発明者： 光石 衛 ,  割澤 伸一
出願人/特許権者： 光石 衛 ,  浜井産業株式会社
代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-185492
公開番号（公開出願番号）：特開平6-008106
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1994年01月18日
要約：

【要約】【目的】 加工機械の切削現象等を対象として、その状態の異常有無を高速、高精度で判定すると共に最適な制御をおこなう。【構成】 力センサ8,13により、工具9,工作物14の加工反力を検出し(S1)、その値1周期分のベクトル軌跡についての重心を求め(S2)、さらに重心からベクトル軌跡上の各点までの距離の分散を求める(S3)。次いで、分散の値と、設定されている基準の値とを比較し、分散の値が基準値を越えた場合に(S4yes)、加工の異常が発生したものとみなして、工具9の回転数や工作物14の送り速度等の加工条件を変え、加工の異常を回避する(S5)。

請求項（抜粋）：

変動する対象側または/および対象を操作する手段側に設置されたセンサの検出情報と予め入力されている操作条件から得られる予測値とに基づき対象の状況を判断し、その判断結果から対象の状態または/および操作手段の状態がより適切なものになるように操作手段を制御することを特徴とする適応制御システム。

IPC (3件)：

B23Q 15/12 ,  B23Q 17/09 ,  G05B 13/02

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-292347
  
• 特開平3-043132
  
• 特開昭62-094250