特許
J-GLOBAL ID:200903073576535050

ガス濃度測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 和泉 良彦 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-295106
公開番号(公開出願番号):特開2001-116738
出願日: 1999年10月18日
公開日(公表日): 2001年04月27日
要約:
【要約】【課題】バラツキのないデータを安定して取得できるガス濃度測定装置を提供すること。【解決手段】測定対象ガスと化学物質との化学反応から得られる光学的情報を光学的検出部分で検知し、該光学的情報から該測定対象ガスの濃度を求めるガス濃度測定装置であって、該装置の筐体1が下向きの開口部(スリット2)を有し、スリット2が、測定対象ガスを含有する気体を筐体1内に流入させ、しかも、外部光を筐体1内に入射させず、外部光の影響を受けることなく、測定対象ガスの濃度を測定することを可能とするガス濃度測定装置を構成する。
請求項(抜粋):
測定対象ガスと化学物質との化学反応から得られる光学的情報を光学的検出部分で検知し該光学的情報から該測定対象ガスの濃度を求めるガス濃度測定装置において、該装置の筐体が下向きの開口部を有することを特徴とするガス濃度測定装置。
IPC (3件):
G01N 31/00 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/75
FI (3件):
G01N 31/00 H ,  G01N 21/01 Z ,  G01N 21/75 Z
Fターム (30件):
2G042AA01 ,  2G042BB07 ,  2G042BB12 ,  2G042CA01 ,  2G042CB01 ,  2G042DA09 ,  2G042FA11 ,  2G042HA02 ,  2G042HA10 ,  2G054AA01 ,  2G054CA06 ,  2G054CE01 ,  2G054EA04 ,  2G054FA22 ,  2G054FA27 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FA50 ,  2G054JA11 ,  2G059AA01 ,  2G059BB02 ,  2G059CC05 ,  2G059CC06 ,  2G059DD03 ,  2G059EE01 ,  2G059EE17 ,  2G059FF12 ,  2G059GG02 ,  2G059KK01 ,  2G059NN10
引用特許:
審査官引用 (1件)

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