特許
J-GLOBAL ID:200903073751431883

電界磁界検出素子及び電界磁界計測装置並びに電界磁界計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西村 征生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-321244
公開番号(公開出願番号):特開2003-121483
出願日: 2001年10月18日
公開日(公表日): 2003年04月23日
要約:
【要約】【課題】 空間分解能を低下させることなく、高速で電界成分及び磁界成分を計測する。【解決手段】 開示される電界磁界検出素子10は、多層プリント配線基板4に、電界成分を検出する電界検出素子1と、磁界成分を検出する磁界検出素子2とが形成され、電界検出素子1及び磁界検出素子2は互いに独立に動作するように形成されている。
請求項(抜粋):
空間に分布している電界成分及び磁界成分を検出する電界磁界検出素子であって、多層プリント配線基板に、前記電界成分を検出する電界検出素子と、前記磁界成分を検出する磁界検出素子とが形成され、前記電界検出素子及び前記磁界検出素子は互いに独立に動作するように形成されたことを特徴とする電界磁界検出素子。
IPC (2件):
G01R 29/08 ,  G01R 33/02
FI (2件):
G01R 29/08 F ,  G01R 33/02 B
Fターム (4件):
2G017AA01 ,  2G017AD00 ,  2G017AD03 ,  2G017AD04
引用特許:
審査官引用 (3件)

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