特許
J-GLOBAL ID：200903073758460390
粒子および電磁放射線の検出、測定および制御
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山田 卓二
, 田中 光雄
, 中野 晴夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-545990
公開番号（公開出願番号）：特表2008-523402
出願日： 2005年07月13日
公開日（公表日）： 2008年07月03日
要約：
粒子及び/又は電磁放射線の検出、測定または制御の方法が提供され、該方法は、粒子または放射線のための経路を規定する変形可能なアパーチャを含む変形可能な材料を用意することと、変形可能な材料を変形させることによって、変形可能なアパーチャを予め定めた幾何形状及び/又はサイズに調整し、変形可能なアパーチャによって規定された経路のパラメータの少なくとも1つを変化させることと、検出、測定または制御される粒子または放射線を、変形可能なアパーチャに入れることとを含む。該方法は、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを監視して、こうした監視に応じて、変形可能なアパーチャのサイズ調整を制御するステップをさらに含む。必要な装置は、安価な材料から容易に製作される。さらに、変形可能なアパーチャは、製造前に、適切な幾何形状に調整可能であり、アパーチャ幾何形状を調整する能力は、異なるサイズの複数の粒子を弁別することを可能にする。
請求項（抜粋）：
粒子または放射線のための経路を提供する変形可能なアパーチャを含む変形可能な材料と、変形可能な材料を変形させて、変形可能なアパーチャによって提供された経路のパラメータの少なくとも1つを変化させるための調整手段とを組み込んだ、粒子感受性または放射線感受性のデバイス。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N15/12 A
, G01N15/14 A
