特許

J-GLOBAL ID：200903074058312222

設計支援方法、設計支援システムおよび記録媒体

発明者： 佐藤 博司
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-195123
公開番号（公開出願番号）：特開2006-018541
出願日： 2004年07月01日
公開日（公表日）： 2006年01月19日
要約：

【課題】 本発明は、製品開発で問題となる効果に対する解決指針を生成する方法及びシステムを提供することにある。【解決手段】 本発明では、部品、組付動作、属性データと問題効果の関係から必要なデータを抽出するとともに、必要な語句を加えて再構築することにより、解決指針を生成することを特徴とする。【効果】 本発明によれば、具体的な解決指針が自動的に生成できるので、製品開発時間の短縮、質的向上を図ることができるという顕著な効果を奏する。【選択図】 図16

請求項（抜粋）：

設計対象の構成部品と、構成部品の組付動作と、構成部品の性質(属性)とを表す第一の情報と、設計対象の課題の原因である問題となる効果(問題効果)を表す第二の情報と、問題効果と構成部品、組付動作、属性との関係を表す第三の情報とを入力するステップと、問題効果と構成部品、組付動作、属性との関係から構成部品、組付動作、属性に幾つかの語句を加えて再構築した問題効果の解決指針を生成するデータベースと、入力ステップで入力された情報とデータベースから問題効果に対する解決指針を生成するステップと、この解決指針を表示するステップとを有することを特徴とする設計支援方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  G06F 17/30

FI (3件)：

G06F17/50 608A ,  G06F17/50 612Z ,  G06F17/30 180A

Fターム (8件)：

5B046BA08 ,  5B046DA02 ,  5B046JA02 ,  5B046KA05 ,  5B075NK46 ,  5B075PQ02 ,  5B075QP01 ,  5B075UU22

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 不良率推定方法、不良率推定システムおよび記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-075282   出願人：株式会社日立製作所